Las pequeñas diferencias en el nivel de señal al cambiar el detector permiten obtener mediciones muy precisas incluso cuando se cambia la longitud de onda del detector.

Se instalan múltiples detectores en la esfera integradora para realizar mediciones en una amplia gama de longitudes de onda, desde el ultravioleta hasta las regiones visibles y cercanas al infrarrojo. Los cambios en los valores fotométricos al cambiar de detector (debido a las diferencias en el nivel de señal) se minimizan gracias a un diseño que utiliza la experiencia de Hitachi en la construcción de esferas integradoras, tecnologías de procesamiento de señales, etc.

Con el sistema de monocromador doble de rejilla de prisma de alto rendimiento de Hitachi se logran características de baja polarización y baja luz parásita.

El UH4150 adopta un sistema óptico de doble monocromador con rejilla de prisma (PG), que mantiene la reputación establecida del sistema óptico U-4100. Es menos probable que se produzcan grandes cambios en la intensidad de la luz de la polarización S y P con el sistema de rejilla de prisma (PG) que con el sistema de rejilla de prisma (GG) que se utiliza generalmente. El UH4150 ofrece mediciones con bajo nivel de ruido, incluso para muestras de baja transmitancia y reflectancia.

El haz de luz colimado permite una medición precisa de la luz reflejada y la luz dispersa.

El ángulo de incidencia es importante para la medición de la reflectancia especular de muestras sólidas. En el caso de un haz de luz enfocado, el ángulo de incidencia varía en función de la longitud focal de la lente, etc. En consecuencia, los valores de simulación del diseño de películas delgadas ópticas, como películas multicapa dieléctricas y prismas, diferirían de los valores medidos reales. Sin embargo, en el caso de un haz de luz colimado, el ángulo de incidencia es siempre el mismo con respecto a la muestra, lo que conduce a una medición de alta precisión de la reflectancia especular. Además, el haz de luz colimado es útil para la evaluación de la difusividad (neblina) y la medición de la transmitancia de las lentes.